Dr. Yande Ndeye Ndiaye, diplômée de TELECOM Nancy en 2017 et Docteure de l’Université de Lorraine-CRAN, a reçu le prix du meilleur papier qu’elle a présenté lors de la conférence « International Design Engineering Technical Conferences & Computers and Information in Engineering Conference », qui s’est tenue à Washington DC du 25 au 28 août 2024.
Sa thèse « A Formal Concept Analysis-based methodology for Knowledge Extraction and Rules Engineering in Additive Manufacturing », soutenue le 19 décembre 2023 au CRAN et au National Institute of Science and Technology (NIST) aux États-Unis, porte sur une méthodologie basée sur l’analyse formelle des concepts (FCA) pour l’extraction de connaissances et l’ingénierie des règles dans le domaine de la fabrication additive (AM). Ses travaux ont été dirigés par Dr. Mario Lezoche et Prof. Hervé Panetto, avec le co-encadrement de Dr. Yan Lu, chef du groupe « Information Modeling and Testing » au NIST.
Les recherches développées dans ce travail de thèse contribuent au domaine de l’Intelligence Artificielle (IA) et concernent les problématiques d’extraction de connaissance pour la fiabilisation de procédés, l’exemple d’application choisie étant la fabrication additive. Son approche permet de mieux comprendre les relations complexes entre les caractéristiques du processus et les défauts potentiels, tout en offrant des outils d’aide à la décision en temps réel pour améliorer la fiabilité des procédés de fabrication additive.
Aujourd’hui, Dr. Yande Ndeye Ndiaye poursuit ses recherches en tant que chercheuse associée au NIST.
Une belle pépite de plus parmi nos diplômés : bravo !